Die M-Ray-Technologie - basierend auf elektromagnetischen Millimeterwellen - unterstützt schnelle und genaue Messungen. Die Wellen sind nicht mehr als die Wellen, die von Ihrem Handy, Ihrem WiFi-System oder dem Satellitennavigationssystem kommen. M-Strahlen werden als innovative Alternative zu herkömmlichen radioaktiven und nuklearen Messtechnologien angesehen. Im Gegensatz zu diesen normalerweise unreinen Technologien mit hohen Gesamtbetriebskosten (TCO) erfordern die M-Ray-basierten Messsysteme von Hammer-IMS keinerlei Emissionslizenzen. Das Konzept hinter der Technologie ist einfach, ein "M-Ray" wird von einem oberen Sensorkopf übertragen. Die Welle geht durch das zu messende Material und wird anschließend von einem Reflektor unter der Materialbahn zurückreflektiert. Unsere M-Ray-gestützten Messsysteme zählen, wie lange es dauert, bis die Wellen das Material passieren. Dies ermöglicht es uns, Informationen über den physikalischen Zustand des Materials zu erhalten, z. B. Dicke oder Flächengewicht.
Im Vergleich zu konkurrierenden Technologien, die häufig auf Nukleartechnologie basieren, ist Hammer-IMS nicht an teure und Seltene Erden Materialien gebunden. Mit rein auf elektronischer basierender M-Ray-Technologie profitieren wir von den im Moore-Gesetz beschriebenen Größen- und Leistungsverbesserungen. Darüber hinaus stellt die rein elektronische Technologie sicher, dass Hammer-IMS-Messlösungen zukunftssicher sind und unübertroffene Kosten-Leistungs-Verhältnisse bieten.
Dank der Skalierungsgesetze der oben genannten Elektronik und des modularen Aufbaus der M-Ray-Messgeräte von Hammer-IMS sind Multisensorkopf-Messsysteme von Hammer-IMS unter dem Markennamen Marveloc-CURTAIN erhältlich. Die Multisensorkopffähigkeit der M-Ray-Technologie ermöglicht Anwendungen, bei denen eine hohe Materialabdeckung erforderlich ist.
Diese revolutionäre M-Rays-Messtechnik basiert auf 8 Jahren Forschung an der Universität KU Leuven (ESAT - MICAS-Forschungsgruppe), die von General Manager Dr. N. Deferm (Noël) und technischem Leiter Dr. T. Redant (Tom). Noël hat sich auf die Hochfrequenztechnologie selbst spezialisiert. Tom entwickelte Methoden, um nützliche Dimensionsinformationen aus der Umgebung abzurufen. Noël und Tom entwickelten das Konzept, dass sich die elektromagnetischen Wellen beim Eindringen in Materialien wie Papier und Kunststoff verlangsamen. Je länger ihre Reisezeit ist, desto dicker oder schwerer ist das Material. Durch genaue Zeitmessungen gelang es ihnen, die Dicke oder das Flächengewicht einer Reihe von Materialien genau zu messen. Dank der multidisziplinären technischen Exzellenz konnten Noël und Tom wirtschaftlich tragfähige Präzisions- und Robustheitsniveaus für ihre M-Ray-Millimeterwellentechnologie realisieren.
Die M-Ray-Technologie ist in unseren integrierten Scanlösungen verfügbar, darunter unser beliebter Marveloc-CURTAIN. Darüber hinaus haben wir auch ein OEM-Modul für Maschinenbauer oder Sensorintegratoren. Das Bild unten gibt Ihnen einen schnellen visuellen Überblick über unsere Produkte.
