Das Konzept der M-Ray-Technologie macht unsere Lösungen nachhaltig, robust, skalierbar, langlebig und zukunftssicher. Die hohe Dynamik der M-Rays unterstützt schnelle, genaue und Messungen mit großem Messpalt. Letzteres steht für ein problemloses Messen des Kundenprodukt, auch bei sehr dicken Materialien und verhindert, dass der Sensor durch flatternde Produktionslinien oder überhitzte Materialien beschädigt wird. Die M-Ray-Technologie kann als Teil einer schlüsselfertigen Messlösung verwendet werden, die einen oder mehrere Sensoren integriert. Es wurde entwickelt, um Dicke, Flächengewicht und Anomalien von flachen nichtmetallischen Strukturen zu messen, einschließlich Vliesstoffen, beschichteten Textilien, Kunststofffolien, synthetischen Schäumen, Mineralwolle, Gummi, ...

Dank der Skalierungsgesetze der oben genannten Elektronik und des modularen Aufbaus der M-Ray-Messgeräte von Hammer-IMS sind Multisensorkopf-Messsysteme von Hammer-IMS unter dem Markennamen Marveloc-CURTAIN erhältlich. Die Multisensorkopffähigkeit der M-Ray-Technologie ermöglicht Anwendungen, bei denen eine hohe Materialabdeckung erforderlich ist.

Diese revolutionäre M-Rays-Messtechnik basiert auf 8 Jahren Forschung an der Universität KU Leuven (ESAT - MICAS-Forschungsgruppe), die von General Manager Dr. N. Deferm (Noël) und technischem Leiter Dr. T. Redant (Tom). Noël hat sich auf die Hochfrequenztechnologie selbst spezialisiert. Tom entwickelte Methoden, um nützliche Dimensionsinformationen aus der Umgebung abzurufen. Noël und Tom entwickelten das Konzept, dass sich die elektromagnetischen Wellen beim Eindringen in Materialien wie Papier und Kunststoff verlangsamen. Je länger ihre Reisezeit ist, desto dicker oder schwerer ist das Material. Durch genaue Zeitmessungen gelang es ihnen, die Dicke oder das Flächengewicht einer Reihe von Materialien genau zu messen. Dank der multidisziplinären technischen Exzellenz konnten Noël und Tom wirtschaftlich tragfähige Präzisions- und Robustheitsniveaus für ihre M-Ray-Millimeterwellentechnologie realisieren.

Damals an der KU Leuven beschlossen die Gründer, die M-Ray-Technologie teilweise in einem führenden Industriejournal zu veröffentlichen. Einige Monate nach dem Umzug auf den Corda Campus in Hasselt, Belgien, wurde Hammer-IMS als Nachricht im Business-TV-Kanal „Kanaal Z“ vorgestellt, der einige Einblicke in die Technologie zeigt.

At the highly anticipated ITMA 2023 Fair, Hammer-IMS, renowned innovator in inline measurement and inspection systems, showcased its latest marvel: the revolutionary 2D-scanner designed for unparalleled 100% inspection and measurement of basis-weights. This remarkable technology has set a new industry benchmark, reinforcing Hammer-IMS' commitment to pushing the boundaries of quality control processes. Customers and interested companies where invited to bring their sample materials so they could witness the machine in action. Our M-Ray Sensor technology is able to detect subtle differences in material grammage; each system is custom-developed to ensure effortless integration into any existing production line.