Technologie

Sensortechnologie

Voor metingen van basisgewicht, dikte en vochtigheid.

https://www.hammer-ims.com/technology/m-ray-technology-based-on-electromagnetic-millimeter-waves

M-Ray

Elektromagnetische millimetergolftechnologie

U-Ray

Ultrasone sensortechnologie

L-Ray

Laser sensortechnologie

C-Ray

Capacitieve sensortechnologie

Cameratechnologie

Voor oppervlakte-inspectie.

Anomaliedetectie & classificatie

AI-gestuurde oppervlakte-inspectietechnologie

Infrarood beeldtechnologie

Voor inhoudsinspectie, materiaalsortering, plastic recycling en meer

Thermische (FLIR) beeldtechnologie

Voor foutdetectie, kwaliteitsborging, veiligheid en energiebeheer

Dimensionale metingen

AI-gestuurde oppervlakte-inspectietechnologie

Software

Connectivity 3.0

Besturingssoftware voor alle systemen

Insights-Panel

De gouden standaard in compliance & traceerbaarheid

HMI Hardware

Robuuste, high-definition interface-opties ontworpen voor elke fabrieksindeling

Add-ons

Ex/ATEX

Ex/ATEX-conforme systemen

Multi-head meting

Metingen met bijna 100% materiaaldekking

Matrijs automatiseringssysteem

Geautomatiseerde besturing voor extrusiematrijzen

Revolutioneer uw kwaliteitscontrole

Wij leiden de industrie in innovatieve meetoplossingen.