比利时哈默-艾姆仕的M-Ray技术提供无触点测量系统，用于测量生产线中扁平结构的厚度、重量和异常情况。这项技术将高频电磁波与创新算法相结合，成为当下核与辐射性测量设备最有力的替代品。
在工业中有两种常见的基于放射性的测量方式:
- β射线传感器：β射线是由核源发出的，这是一种放射性同位素。使用这种资源需要特定的许可证且需要纳税。在使用放射源时，需要严格遵守法规，特别是对使用者及其周围环境的安全。
- X射线传感器: X射线传感器比β射线传感器具有可持续性，遵循一种“开/关”原则。当X射线系统关闭时没有辐射，使其成为一种更清洁、更安全的替代方案。缺点是精度较低，并且提供的测量输出在很大程度上取决于被测量的化合物。同时X射线技术也受到一系列法规和义务的约束。
这些传统技术通常使用核同位素或高压（>5kV）X射线管，因此需要获得排放许可证。它们与人类和环境不相容，因此政府实施了严厉的法规和政策，在某些情况下甚至会逐步淘汰。
无需排放许可证
哈默-艾姆仕凭借专有的非核M-Ray厚度和重量测量技术，研发出不包括β射线或X射线的传感器。M-Ray可持续发展技术的核心是拥有先进的印刷电路板。基于几十年积累的经验，我们的研发部门100%自主开发电子M-Ray测量传感器。M-Ray使用的电磁毫米波是不可见的，完全无害，因此该专利技术是可持续的。
哈默-艾姆仕的技术目前在全球范围内广泛应用于无纺布、纺织涂布、塑料片、薄膜、涂层产品以及一系列其他材料的生产厂家。
